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2.4組織形貌及微區(qū)分析
2.4.1金相分析
光學(xué)顯微鏡能夠在較低的放大倍數(shù)下比較清楚的看到腐蝕樣的組織特點(diǎn)，以及夾雜物的分布， 且成本低廉。本實(shí)驗(yàn)采用光學(xué)金相顯微鏡型號為MEF3.應(yīng)用光學(xué)顯微鏡分析試樣的組織特點(diǎn)，以及碳化物的分布、數(shù)量、和形貌。
2.4.2 SEM（掃描電鏡）分析
經(jīng)拋光腐蝕后金相樣品的二次電子相分辨率及立體感遠(yuǎn)好于光學(xué)金相照片。原子序數(shù)對背散射電子產(chǎn)額比較敏感。在原子序數(shù)Z小于40的范圍內(nèi)，背散射電子的產(chǎn)額對原子序數(shù)十分敏感。在進(jìn)行分析時(shí)，樣品上原子序數(shù)較高的區(qū)域由于收集到得背散射電子數(shù)量多，故熒光屏上的圖像較亮。因此利用原子序數(shù)造成的襯度變化可以對各種金屬和合金進(jìn)行定性的成分分析。樣品中重元素區(qū)域相對于圖像上是亮區(qū)，而氫元素區(qū)域則為暗區(qū)。利用原子序數(shù)襯度來分析晶界上或晶粒內(nèi)部不同種類的析出相是十分有效的。因?yàn)槲龀鱿喑煞植煌ぐl(fā)出的背散射電子數(shù)量也不同，致使掃描電子顯微圖像上出現(xiàn)亮度上的差別。從亮度上的差別，我們就可以根據(jù)樣品的原始資料定性的判定析出物相的類型。
本實(shí)驗(yàn)采用（型號）掃描電鏡，分析鍛后退火態(tài)試樣中各相的形態(tài)數(shù)量和分布（鑄態(tài)碳化物的位置、大小、數(shù)量）。
2.4.3 EDS（能譜儀）分析
經(jīng)拋光腐蝕后金相樣品的二次電子相分辨率及立體感遠(yuǎn)好于光學(xué)金相照片。原子序數(shù)對背散射電子產(chǎn)額比較敏感。在原子序數(shù)Z小于40的范圍內(nèi)，背散射電子的產(chǎn)額對原子序數(shù)十分敏感。在進(jìn)行分析時(shí)，樣品上原子序數(shù)較高的區(qū)域由于收集到得背散射電子數(shù)量多，故熒光屏上的圖像較亮。因此利用原子序數(shù)造成的襯度變化可以對各種金屬和合金進(jìn)行定性的成分分析。樣品中重元素區(qū)域相對于圖像上是亮區(qū)，而氫元素區(qū)域則為暗區(qū)。利用原子序數(shù)襯度來分析晶界上或晶粒內(nèi)部不同種類的析出相是十分有效的。因?yàn)槲龀鱿喑煞植煌ぐl(fā)出的背散射電子數(shù)量也不同，致使掃描電子顯微圖像上出現(xiàn)亮度上的差別。從亮度上的差別，我們就可以根據(jù)樣品的原始資料定性的判定析出物相的類型。
本實(shí)驗(yàn)采用（型號）能譜儀，分析鍛后退火態(tài)試樣中各相的形態(tài)數(shù)量和分布（鑄態(tài)碳化物的位置、大小、數(shù)量）。
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